|
|||||
Общие вопросы - В.П. Тябин. Итоги VI Международной научно-практической конференции
Теория и практика судебной экспертизы Почерковедческая экспертизы: Технико-криминалистическая экспертиза документов: - В.П. Лютов, Д.А. Шлыков. Оптическая микроскопия как источник экспертных ошибок
Письма в редакцию | |||||
| |||||
| |||||
| |||||
| |||||
|